試驗(yàn)箱
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產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品&規(guī)范 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán) 時(shí)間 | 備注 | |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10~12 | 3h20min | ||
MIL-344A-4-16 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | |||
MIL-2164A-19 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到設(shè)定溫度10℃時(shí) | ||
NABMAT-9492 美軍hai軍制造篩選 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到設(shè)定溫度5℃時(shí) | ||
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 | ||
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 | ||
筆記型計(jì)算機(jī) | 85℃ | -40℃ | 15℃/min |
主板二箱式冷熱沖擊箱 是一種專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用來(lái)測(cè)試計(jì)算機(jī)主板在溫度變化下的耐用性和穩(wěn)定性的設(shè)備。隨著計(jì)算機(jī)硬件技術(shù)的不斷進(jìn)步,主板作為計(jì)算機(jī)的核心部件之一,其穩(wěn)定性和可靠性對(duì)于整機(jī)性能至關(guān)重要。冷熱沖擊測(cè)試模擬了設(shè)備在不同環(huán)境下可能遇到的溫度急劇變化,從而驗(yàn)證主板在這種條件下是否能夠正常工作并保持性能。
雙箱設(shè)計(jì):
高溫箱和低溫箱分開(kāi)設(shè)置,通常通過(guò)一個(gè)傳輸裝置(例如,提籃、滑軌或傳送帶)將測(cè)試中的主板從一個(gè)箱體轉(zhuǎn)移到另一個(gè)箱體,確?焖偾袚Q溫度環(huán)境。
高溫箱的溫度范圍通常為60°C至150°C,低溫箱則一般為**-40°C至-70°C**。主板在這兩種環(huán)境下會(huì)經(jīng)歷冷熱急劇變化。
快速溫度變化:
二箱式冷熱沖擊箱能夠快速地從一個(gè)溫度切換到另一個(gè)溫度。通常,溫度變化速度可以達(dá)到每分鐘20°C到30°C,甚至更高,模擬計(jì)算機(jī)主板可能面臨的快速環(huán)境溫差變化。
模擬實(shí)際環(huán)境:
計(jì)算機(jī)主板常常需要在各種環(huán)境下工作,冷熱沖擊測(cè)試能夠模擬在環(huán)境下的應(yīng)用場(chǎng)景,如設(shè)備搬遷、倉(cāng)儲(chǔ)運(yùn)輸?shù)冗^(guò)程中可能發(fā)生的溫度變化。通過(guò)冷熱沖擊測(cè)試,評(píng)估主板的抗溫差變化能力,確保其能夠在高溫和低溫環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行。
測(cè)試次數(shù)和循環(huán):
測(cè)試通常需要進(jìn)行多次冷熱循環(huán)(例如,20次、50次、100次等),每一次從低溫到高溫,或從高溫到低溫的快速轉(zhuǎn)換,都對(duì)主板的穩(wěn)定性提出了挑戰(zhàn)。
測(cè)試期間的保護(hù):
高質(zhì)量的冷熱沖擊箱配備有防冷凝裝置,以防止低溫環(huán)境下由于急劇升溫而形成水珠,避免冷凝水對(duì)主板造成電路短路或腐蝕等損害。
實(shí)時(shí)監(jiān)控:
設(shè)備通常配備了實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng),用于記錄溫度變化、主板工作狀態(tài)、以及測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)的任何異常(例如主板無(wú)法啟動(dòng)、藍(lán)屏死機(jī)等)。這些數(shù)據(jù)對(duì)分析主板在不同環(huán)境下的表現(xiàn)至關(guān)重要。
準(zhǔn)備測(cè)試物品:
將計(jì)算機(jī)主板放置在冷/熱沖擊箱的托盤(pán)上,確保其固定且與環(huán)境接觸良好。主板可能需要連接到簡(jiǎn)單的測(cè)試電路,用于實(shí)時(shí)監(jiān)控其工作狀態(tài)。
溫度變化:
測(cè)試開(kāi)始時(shí),主板首先置于高溫箱內(nèi),進(jìn)行高溫測(cè)試。此時(shí),主板需要在較高溫度下穩(wěn)定運(yùn)行,檢查其對(duì)溫度升高的適應(yīng)能力。隨后,主板被迅速移至低溫箱進(jìn)行低溫測(cè)試,檢驗(yàn)其在低溫下的啟動(dòng)和穩(wěn)定性。
冷熱交替循環(huán):
在多個(gè)冷熱交替循環(huán)的過(guò)程中,主板會(huì)經(jīng)歷多次從低溫到高溫,再?gòu)母邷氐降蜏氐霓D(zhuǎn)換。每次轉(zhuǎn)換都會(huì)對(duì)主板的電氣性能、熱膨脹和收縮等方面產(chǎn)生影響,測(cè)試其在反復(fù)冷熱沖擊中的表現(xiàn)。
性能檢測(cè):
在冷熱沖擊測(cè)試完成后,檢查主板的各項(xiàng)性能指標(biāo)。例如,是否能夠正常啟動(dòng),處理器、內(nèi)存、硬盤(pán)等組件是否能正常工作,是否出現(xiàn)死機(jī)、藍(lán)屏或性能下降等問(wèn)題。
數(shù)據(jù)記錄與分析:
測(cè)試過(guò)程中,系統(tǒng)記錄下每一次溫度變化、測(cè)試期間主板的穩(wěn)定性等數(shù)據(jù)。通過(guò)這些數(shù)據(jù),可以評(píng)估主板在環(huán)境下的長(zhǎng)期耐用性,確定其是否符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)。
主板研發(fā)與測(cè)試:
在主板的研發(fā)階段,工程師會(huì)利用冷熱沖擊箱進(jìn)行高溫、低溫和冷熱交替測(cè)試,驗(yàn)證設(shè)計(jì)是否符合耐溫要求,確保其能夠在各種環(huán)境條件下正常運(yùn)行。
生產(chǎn)質(zhì)量控制:
對(duì)于批量生產(chǎn)的主板,冷熱沖擊測(cè)試是質(zhì)量控制的重要環(huán)節(jié)。通過(guò)進(jìn)行嚴(yán)格的冷熱沖擊測(cè)試,確保每一塊主板的質(zhì)量合格,能夠應(yīng)對(duì)實(shí)際使用中的溫度變化。
國(guó)際認(rèn)證與標(biāo)準(zhǔn):
許多電子產(chǎn)品需要符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和認(rèn)證要求,例如,MIL-STD-810(美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)),以及IEC 60068-2-14等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),冷熱沖擊測(cè)試通常是這些認(rèn)證的一個(gè)重要部分。
售后服務(wù)與質(zhì)量保證:
在計(jì)算機(jī)主板的售后服務(wù)中,廠家會(huì)使用冷熱沖擊箱來(lái)檢查出現(xiàn)故障的主板,確定其是否在溫差較大的環(huán)境中出現(xiàn)問(wèn)題,為用戶提供更好的技術(shù)支持和質(zhì)量保障。
IEC 60068-2-14:國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),適用于電子設(shè)備的冷熱沖擊測(cè)試,規(guī)定了設(shè)備在溫度變化下的測(cè)試方法和要求。
MIL-STD-810:美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),針對(duì)設(shè)備在環(huán)境條件下的性能,包括冷熱沖擊測(cè)試。
GB/T 2423.22:中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),適用于電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn),包含冷熱沖擊測(cè)試方法。
ISO 16750:汽車(chē)電子設(shè)備的環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),包含冷熱沖擊等環(huán)境測(cè)試要求。
主板二箱式冷熱沖擊箱是驗(yàn)證主板在溫差變化條件下穩(wěn)定性和耐用性的關(guān)鍵設(shè)備。通過(guò)模擬溫度的急劇變化,測(cè)試主板在高溫、低溫以及冷熱交替過(guò)程中是否能夠正常工作,檢查其抗熱膨脹、收縮以及電氣穩(wěn)定性。冷熱沖擊箱廣泛應(yīng)用于主板的研發(fā)、生產(chǎn)質(zhì)量控制、認(rèn)證驗(yàn)證和售后服務(wù)等環(huán)節(jié),確保計(jì)算機(jī)主板能夠在各種環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行。
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